干擾問題是我們做硬件，做產品的人無法繞開的一個話題，今天我們就來聊聊射頻系統中RX靈敏度desense的問題。
那么何為desense？簡言之為射頻接收機靈敏度惡化。
從系統靈敏度公式Pr=-174+NF+10lg(B)+10lg(SNR)中可知，系統接收機靈敏度由信道帶寬和信噪比共同決定。例如20M帶寬就要比40M帶寬理論值好3dB.對于一個特定的系統接受機，只有噪聲是不確定的，所以信噪比的惡化就直接導致了靈敏度的惡化。一般來說信號強度一般不會受到環境干擾的影響，所以實際上信噪比的惡化就是RX頻段的底噪被抬高了。
在WIFI 產品的RX靈敏度desense問題中，常見的整機與板級干擾源分析:
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整機天線被PCBA輻射的雜散信號干擾，從而引發系統靈敏度惡化。
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PCBA上的各種高速數字信號（如PCIe、USB2/3、RGMII、SGMII、DDR）以及晶體、功率電感等都會輻射雜散信號，如果這些雜散信號落在2.4G或者5G頻段范圍內，則可能造成RX靈敏度的惡化。
那么在實際工程問題中，我們應該如何來測試這個RX desense呢？接下來我們以WIFI產品來舉例說明：
我們先來看看測試原理：
備注：
WIFI TX功率=CWM RX=WIFI TX-ATT
WIFI RX 靈敏度=WIFI RX=CWM TX-ATT
WIFI TX功率-WIFI RX靈敏度=CWM RX -WIFI RX
說明：Desense本質上就是基于傳導的數據，去看空口耦合的RX，如果存在干擾，則RX基于傳導的損耗就是變大，因為，相同情況下空間損耗是一定的。
具體的測試步驟：
1.測試PCBA傳導TX功率和RX靈敏度：
速率HT20MCS7；
信道2G：1~13；5G：36~64，149~165）；
2.測試整機天線耦合下的TX功率和RX靈敏度；
速率HT20MCS7；
信道2G：1~13；5G：36~64，149~165）；
3.將PCBA傳導測試的TX功率和RX靈敏度結果相加得到A；
4.將整機天線耦合測試的TX功率和RX靈敏度結果相加得到B；
5.將B-A，如果|B-A|＜3，則判斷干擾可以接受；如果|B-A|＞3，則判斷干擾過大，需要整改；
如下以2.4G舉例說明：
B=實測OTATX功率+實測OTARX靈敏度
A=實測傳導TX功率+實測傳導RX靈敏度
OTA desense=B-A
Desense 測試中注意事項：
1.所有信道都要測試，因為一些窄帶干擾信號可能就落在某個信道內，只對該信道造成干擾，因此不能挑選個別信道代替進行測試；
2.建議測試速率選擇HT20MCS7；
3.進行整機耦合測試時，TX和RX測試要一次測完，中途不能打開屏蔽箱調整天線位置，如果中途打開屏蔽箱調整了天線位置，則整機耦合測試需要全部重新測試；
我們在產品設計之初應該怎么做好抗干擾設計呢？
1.做好高頻信號的濾波，在源頭就近濾波，在高頻信號，關鍵時鐘信號上預留電容設計。
2.做好屏蔽設計，對輻射類干擾區域設計預留屏蔽罩，比如帶DDR的小系統，射頻模塊，同時針對高速信號線盡量走PCB內層。
3.做好良好的接地設計。
關于單板與整機抗干擾設計，你還有什么好辦法呢？歡迎留言討論!